Pregled objav javnih naročil

Amiteh, merilni sistemi, d.o.o.

Obvestilo o oddaji naročila male vrednosti
Datum objave Naziv
10.01.2017JN007647/2016-X01/2017, Blago: Dobava opreme na UM FERI - Osciloskop
03.11.2017JN008681/2017-X01/2017, Blago: Dobava opreme na UM FERI - Spektralni analizatorji
07.11.2018JN006408/2018-X01/2018, Blago: Terra Hertz-ni spektroskopski sistem v frekvenčnem področju
19.12.2018JN007573/2018-X01/2018, Blago: Merilni sistem za pulzne generatorje elektroporatorje
26.02.2020JN000154/2020-X01/2020, Blago: Merilna postaja tokovno-napetostnih karakteristik s 4-točkovno metodo
05.04.2022JN000018/2022-X01/2022, Blago: Nakup raziskovalno-merilne opreme in sistemov za potrebe Zavoda za gradbeništvo Slovenije (9 sklopov)
16.06.2022JN002241/2022-X01/2022, Blago: Specifična merilna laboratorijska oprema po sklopih
12.07.2022JN003532/2022-X01/2022, Blago: Osciloskop realnega časa
21.03.2023JN000667/2023-X01/2023, Blago: Nakup in dobava novega osciloskopa
09.06.2023JN002158/2023-X01/2023, Blago: IMPEDANČNI ANALIZATOR IN PRIPADAJOČA OPREMA ZA DIELEKTRIČNO SPEKTROSKOPIJO
Obvestilo o oddaji naročila
Datum objave Naziv
06.01.2022JN006410/2021-C01/2022, Blago: Nabava merilnega sistema za skeniranje magnetnega polja ter ugotavljanja nehomogenosti in razpok v magnetnih in nemagnetnih materialih
17.06.2022JN008664/2021-C01/2022, Blago: Nabava sistema za testiranje in meritve mikroelektronskih vezij
17.06.2022JN001592/2022-C01/2022, Blago: Nabava postaje za avtomatizirane meritve na polprevodniških rezinah
24.06.2022JN001045/2022-C01/2022, Blago: Nabava magnetometra
09.01.2023JN008664/2021-C02/2023, Blago: Nabava sistema za testiranje in meritve mikroelektronskih vezij
01.08.2023JN003217/2023-C01/2023, Blago: Nakup raziskovalne opreme: Sistem za karakterizacijo fotonskih integriranih vezij
* prikazani podatki se zajemajo iz obvestil o oddaji naročil, ki so jih naročniki objavili na portalu javnih naročil na spletni strani www.enarocanje.si